●JTAGテストを適用するメリット

  エレクトロニクス製品の信頼性を向上させるため、初期不良はバーンイン試験のように被検査基板を高温で動作させ、初期不良にいたるまでの時間を加速し、初期不良を取り除くことができる。原因究明のためには、インサーキットテスタのような量産用テスト装置を使用する場合が多くみられる。しかし、室温で検査しても不良は発生しないことが多く、バーンイン試験とは異なったテスト結果になる。

　このような検査結果の違いは、はんだ接合部の弱い部分の温度感度によることが多い。高温でオープンとなるはんだ接合部は、温度低下またはピン冶具の圧力により、正常な状態に戻ることがある。JTAGテストは、テストインタフェースが簡単なため、温度を上昇させた状況でもテストと診断プロセスを適用することができる。そのため、JTAGテストは、バーンイン試験の効果を格段に改善でき、市場における不良発生率を大幅に減らすことができる。

●所有している検査設備にJTAGテスト機能を追加できる

  一般的なプリント基板の量産製造ラインは、十分なテストカバレッジを保証するため、いくつかの検査手法の組み合わせによる補完テストを行っている。JTAGテストを導入している多くの工場では、すでに所有しているインサーキットテスタ、ファンクションテスタ、フライングリードテスタの装置にJTAGテスト機能を組み込んで使用している。したがって、現行の製造ラインの中で、テストの工程を新たに追加することなく、JTAGテストによりBGA搭載基板を含む高密度基板をテストできることになる（図12）。

図12　JTAGテストによる検査装置の補完

  多くの実施可能なテストや検査手法（光学、X線、インサーキットテスト、JTAGテストなど）の組み合わせの選択は、いくつかの要因（テストする製品の特徴、プロダクションスループットの要求、予想できる不良範囲）に依存する。JTAGテストは、ICTのような他のテスト手法を補完するため、その組み合わせは予測できる不具合タイプに対し、最小のコストと最大限のカバレッジで最適のテスト手法を提供できる。

　しかしJTAGテストとインサーキットテストの組み合わせは、すべてのアプリケーションに対して完全なテスト手法ではない。少量多品種の生産に対しては、JTAGテストとフライングプローブテスタを組み合わせるとコスト効果が大きくなることもある。もう一つは、ファンクションテストとJTAGテストの組み合わせがある。このテストシステムでは、1つの工程でファンクションテストとJTAGテスト、さらにオンボードプログラミングまで対応できる。

　JTAGテストシステムは、スタンドアロン動作だけでなく、様々なテスト装置との組み合わせをサポートしている。アプリケーションへの移植が容易であり、工場設備に対してオフラインでテストプログラムの開発や故障診断ができるメリットは大きい。ユーザーが生産ラインを最適化するために、JTAG Technologies社はユーザーにカスタマイズ用のソフトウェアを提供している。たとえば、National Instruments社のLabView、LabWindowsやTestStandを使用したファンクションテストシステム用のソフトウェアや各社インサーキットテスタやフライングプローブテスタを含むサードパーティのテストシステムに対して、様々なソフトウェアとハードウェアを準備している。

3.あとがき

  今回はJTAGテストとインサーキットテスタ、ファンクションテスタに焦点を絞り、生産ラインのコスト削減と品質向上に役立つヒント①から、ヒント⑤を紹介した。所有しているテスタにJTAGテストツールを組み込むことにより、検査カバレッジは飛躍的に向上することがお分かりいただけたと思う。生産ラインの1つの工程でJTAGテストも実行できるようになるため、検査コスト削減と品質向上を両立できる。

　また、検査準備の段階においては、業界スタンダード『JTAG ProVision』に登録されている10万種類を超える部品ライブラリにより、テストプログラムが自動生成され、基板検査の準備時間を大幅に短縮できる。

　次号では『後編』として、光学検査装置（AOI）、X線検査装置を効率的に使用するためのJTAGテストの活用方法による生産ラインの効率化と企業内の各部門におけるメリットと具体的な利益の事例を紹介する。

 

 

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