ここに紹介するSPEA社の3030インサーキットテスタは、現在のラインで抱えている諸問題解決のツールになればと考えている。

　主だった特色を以下に紹介する。

（1）1台のテスタでアナログICT、デジタルICT、汎用ファンクションテストの機能を有している。逆に初期投資効果は従来のデジタルICTテスタ1台分より少ない投資ですむ。

　また、必要に応じて豊富な機種をもっており、使う方の選択肢は多くなる。一例としては、メインのテスタを当初導入して、テスタをN倍にしてスループットを向上させる時にはテストステーションとして安価なシステムの導入によって同レベルのラインをN倍化することが可能であり、しかも投資額はN倍にはならず、トータルコストを軽減できる（図4）。

図4　3030、4030プライスレンジ

図5　テストカバレージの図

（2）前述のように、テスタ1台で、アナログICT、デジタルICT、ファンクションテストが可能なため、基板検査のテストカバレージが格段に向上する。図5に不良（テスト）カバレージを示すが、SPEA3030は、ここに示すテスト内容はすべて対応可能である。

（3）マルチコアテクノロジー

　3030テスタは最大4つのCPUを設置することができ、1つのステージで異なった4種類のプログラムのマルチテストを可能にする。

　例①として、写真4と図6のように冶具1台で4枚の基板をセットし、それぞれの基板には異なったCPUから同じプログラムを実行すれば、テストスループットは4倍になる。また、4つのCPUに異なったジョブを実行させることも可能である。

　例②として、CPU1、CPU2にはアナログ・デジタルインサーキットテスト、CPU3にはファンクションテスト、そしてCPU4にはオンボードプログラミングテストを実行させることが可能である。これにより、1台のテスタで異なったのテストを同時に行え、テスト時間の短縮とテストラインの一元化が可能である。

図6　パラレルテストの図

写真4　4枚乗せフィクスチュアー

 

 

• 1
• 2
• 3
• 4
• 5