顧客事例

イマジネーションテクノロジーズ社　Graham Deacon氏

 「BGAデバイス実装個所などは、機能テストだけではテストが十分に網羅されない。ニューヨーク地下鉄車両に搭載される車両用モニタシステム（Monitoring and Diagnostics System）にXJTAG のバウンダリスキャンテスタを活用することで、よりよいテストのカバレッジを少ないコストで得ることができている」（コイト電工（株）鉄道技術部　登立氏）

　「XJTAGによりテスト開発の工数が飛躍的に削減できて、ハードウエアができあがってくる前に効率の良いテストを用意できている。そしてXJTAGによるテストは、最新基板の電源動作確認後、直ちに行えるようになり、製造上の大部分の欠陥に対して、通常10分程度でテストをできるようになった」（イマジネーションテクノロジーズ社　Graham Deacon氏）

バウンダリスキャンテストについて

　バウンダリスキャンテストはマイクロコントローラやFPGAなどのデバイス内に組み込まれた専用のテスト回路を活用する。各デバイスはテストアクセスポート（JTAGポート）をもち、基板上の4信号線のみでバウンダリスキャンチェインにシリアル接続される。JTAGテストプローブは、この4信号に接続されるだけで各デバイスへのI/Oは不要。このテスト手法はJoint Test Action Group （JTAG）によって提案され、1990年にIEEE 1149.1スタンダードとして採択された。XJTAGテストシステムはテストの生成や再利用を容易にすること、バウンダリスキャンチェインに直接接続されないJTAG未対応デバイスをテストするために基板上のI2CやSPIバスなどを活用するなど、バウンダリスキャンテストの潜在能力を最大限に引き出している。これにより、メモリ、イーサネットポート、ADCやDACもバウンダリスキャンでテストができる。またセンサやディスプレイデバイス、スイッチなどにも対応している。

まとめ

　BGAなど高密度実装基板の検査・不良解析を電気的に行えるJTAG バウンダリスキャンテストは、JTAGデバイスの信号線をプローブとして操作・観測するためソフトウエア技術によって最大限に活かされる。そして、XJTAG社は高度なソフトウエア技術によって、バウンダリスキャンツールの使い勝手・容易性・再利用性に革新を起こしたパイオニアである。

　●ネットリスト解析機能でJTAGデバイス信号間の実装テストを自動生成
　●BOM解析によるJTAG未対応デバイスの機能テスト設定自動化
　●JTAG未対応デバイスの機能テストをライブラリ化＆無償提供
　●DFT解析によりカバレッジ結果からテスト容易性設計へ改善
　●ランタイムデバッグやエラー解析のビジュアル化

BGA搭載基板などの実装検査・不良解析バウンダリスキャンテスタ

　これらによりテストプログラムの開発工数・費用が軽減され、再利用やサポートも容易になり、今やJTAGバウンダリスキャンテストは設計・開発から製造・メンテナンスまで一貫して活用される。

　国内代理店である富士設備は、組み込みソフトウエア開発の専門家としての強みを生かし、この製品の安心サポートを提供している。XJTAG社のサイトには、JTAG バウンダリスキャンに関する技術情報が、和文・英文で公開されている。また国内代理店である富士設備では、動画デモ、デザイン for テストの概説書、成功事例などをホームページで公開し、無償評価版・無償基板セットアップなども受け付けている。

 

 

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