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注目製品
2022.12.23
3D光学プロファイラ
NanoX-2000シリーズ

垂直走査干渉法と位相シフト干渉法技術を採用し、ワークの表面粗さ、ステップ高さ、表面プロファイル、およびそれらの形状をナノスケールレベルにて3次元測定を可能にする3D光学プロファイラ。特徴は、①PSI+VSI+CSI+XSI選択可能干渉方式、②優れた測定精度と再現性、③主要部材はUS、ドイツ、日本製を採用、④3rd Partyのキャリブレーション機能標準装備、⑤高コスパのマイクロトポグラフィ測定装置、など。

会社名
CCTECH JAPAN(株) 
所在地
東京都品川区東五反田2-8-3