NANDフラッシュを含む不揮発性メモリを高精度にテストするメモリテストシステム。特徴は、①従来製品比5倍のデータ転送速度を実現、②マルチプローバー内部に組み込み可能な省スペースを実現し、システムコントローラから制御、③最大12台のテストステーションを同時測定可能、④ウエハ試験でテストステーション1台当たり最大1152個のデバイスを同時に試験可能、⑤テストコストの削減とスループットの向上を可能にする、など。