2次元検査装置『Sherlock-300/500L』の良さはそのままに、検査速度5000mm/秒を実現した基板3D検査装置。特徴は、①全部品の浮き検査やフィレット体積検査などの3次元検査を、2次元専用検査装置と同等のタクトタイムで実現、②最大高さ20mmの測定レンジ全体をマルチスキャン方式により高さ分解能12μmで計測でき、背高部品の浮き検査も可能、③チップ部品やQFPなどの主要部品に自動部品設定機能が搭載され、ライブラリデータがない状態でのティーチングを支援、など。