電源オフ条件下で、個別部品のテストや予測診断、多チャンネルによる基板のテストや予測診断が行えるVI特性テスタ。特徴は、①テスト信号の周波数スイープによる2Dモード／3DモードでのV-I特性解析、②固有周波数テスト信号でのV-I特性解析、③複数マトリックス周波数でのV-I特性解析、④パルス出力によるV-T試験でトライアック、トランジスタ、サイリスタなどの期待寿命を基板の電源なしで予測、⑤自動ライブ比較機能、⑥条件付き自動比較機能、など。