電子機器が誘導ESDに対する耐性を備えているかどうかを検査する誘導ESD耐性検査装置。変化する静電気により静電誘導が生じ、これによる電位差が導体間の狭ギャップ（間隔0.1mm程度以下）に加わった時に起こる超高速静電気放電である誘電ESDへの耐性を検査する。

主な仕様は、
印加電圧：‐700V～－10kV、
印加電極の寸法：170L×60Wmm、
走査方法：手動、
走査範囲：430×180mm、
EUT（テスト対象機器）の最大寸法：430W×180D×150Hmm、
放電検出アンテナ：ループアンテナ（ループ外径、50mm）EV-10Aに接続可能、
など。