半導体検査、水分の分布可視化、食品の異物検査に好適なSWIRイメージスキャナ。特徴は、①SWIR画像をイメージスキャナ方式で実現、②基準板による校正機構を搭載し、反射率、透過率（オプション）2次元分布解析が可能、③照射角度、受光角度が一定で、光沢素材でもてかりのない画像を実現、④取り込み寸法：310×420mm、⑤SWIR専用機、SWIR専用機（HDR）、2ch-SWIR専用機、フルカラー/SWIRマルチモード機の4モデルをラインアップ、など。