検査速度7500mm²/秒を実現したLサイズ2D基板外観検査装置。特徴は、①高速駆動部／高速撮像カメラ／高精度大口径レンズのすべてを最適／専用設計し、性能とコストを両立、②Sherlock-300シリーズに比べ、約50％の高速化を実現、③Lサイズ基板（510×460mm）まで対応し、高さ最大45mm部品も検査可能、④専用設計レンズにて高被写界深度を確保、⑤最高分解能10μmで小型部品も検査可能、⑥リフロー前基板の検査にも最適な低振動メカニズム、など。