堅牢なステージとソフトウエア制御による柔軟な線源／検出器の位置決めにより、大きい試料、重い試料、高さのある試料でもフル3Dコンテキストでイメージングが可能な3D X線マイクロトモグラフィーシステム。特徴は、①高解像の検出器により、大きい試料の内部でも細部のイメージングが可能、②実績あるXradiaプラットフォームをベースとした高いデータクオリティ、③上位機種のX線顕微鏡へのアップグレードに対応、など。