3D X線マイクロトモグラフィーシステム
ZEISS Xradia Context
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堅牢なステージとソフトウエア制御による柔軟な線源/検出器の位置決めにより、大きい試料、重い試料、高さのある試料でもフル3Dコンテキストでイメージングが可能な3D X線マイクロトモグラフィーシステム。特徴は、①高解像の検出器により、大きい試料の内部でも細部のイメージングが可能、②実績あるXradiaプラットフォームをベースとした高いデータクオリティ、③上位機種のX線顕微鏡へのアップグレードに対応、など。
- 会社名
- カールツァイス(株)
- 所在地
- 東京都千代田区麹町2-10-9
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