焦点シフト、焦点スポットサイズ、VISおよびNIR範囲で動作する高出力産業用レーザの位置を測定するための非接触ビームプロファイリングシステム。特徴は、①NIR領域（950〜1100nm）に加え、VIS波長（420〜635nm）の高出力レーザ、主に緑色レーザと青色レーザを測定する第2世代システム、②産業用材料加工用途で使用される非常に高出力のYAG、ファイバ、ダイオードレーザ向けに設計されている、③バッテリセルの銅溶接やヘアピン溶接など、材料加工や自動車用途でのレーザ溶接および切断に最適、など。