導体／半導体の厚さを非接触測定できる静電容量式非接触厚さ計。特徴は、①測定精度±0.05〜0.12％FS（センサとの組み合わせによる）、演算周期10m秒、②多点連続測定や高速ラインに対応し、検査時間の短縮と高品質な計測を実現、③温度測定／補正機能搭載、④Ethernet通信（オプション）、⑤CL-0740絶縁体計測機能の搭載により絶縁体の厚さ計測が可能（オプション）、⑥直感的に使えるカラー液晶タッチパネルディスプレイ、⑦小型／軽量／低消費電力化、など。