液晶パネルの不良検出や液晶材料の評価において、より効率的で高精度な測定を可能にする液晶物性評価システム。特徴は、①イオン密度測定での測定周波数の拡大（従来0.01Hzまでを0.001Hzまでに拡大）、②同時測定（最大8CH）、順次測定（最大48CH）から選択可能、③電圧保持率（VHR）／イオン密度／残留DCを測定可能、④電圧保持率測定における繰り返し精度を向上、⑤ノート型PCにUSBで接続するだけで測定／解析が可能、⑥測定結果の自動保存機能の拡充、など。