現在の最先端HDI基板製造に最適な適合性と高い欠陥検出能力を実現する光学式自動外観検査装置。特徴は、①優れた実績をもつ独自のSIPテクノロジーにより優れた検出精度を実現（最小30μmライン／スペース対応、配線デザインを理解した検査、独自のLED光源）、②スマートセットアップによる直感的な操作を実現（真欠陥と疑欠陥を目視で分類できる直感性と、ワンサイクル処理（反復スキャン最小限）による時間短縮の実現、検査感度の自動生成による最適化の実現）、③独自の真空テーブルで最適にパネルを固定、④欠陥エリアにすばやくかつ簡単にアクセスできるオンライン欠陥確認機能、など。