デュアルタイプ膜厚計
デュアルスコープ DMP40
鉄や鋼などの磁性金属上に施された非磁性被膜厚測定、アルミや銅などの非磁性金属上に施された塗料やプラスチック、またアルミ上の陽極酸化被膜やクローム、無電解ニッケル(条件付き)などの絶縁被膜測定ができるデュアルタイプ膜厚計。特徴は、①手になじむサイズと保護等級IP64の堅牢なアルミ製筐体、②測定データはUSB-CまたはBluetoothにより簡単に出力可能、③光/音/振動によるフィードバック通知機能、④種類豊富なプローブを選択できる、など。
- 会社名
- (株)ケット科学研究所
- 所在地
- 東京都大田区南馬込1-8-1

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