テラヘルツ分光測定装置
19型ラックマウント搭載

広帯域、高精度分解が可能な、小型で取り扱いやすいテラヘルツ分光測定器。特徴は、①プローブ:先端φ25×50mmへッド×2、②専用ソフトウエアまたはLabVIEWドライバによる操作、③近赤外レーザのヘテロダイン干渉により高精度なTHz分光が可能、④19型ラックマウントから取り出されるファイバ導光プローブによって取り回しや計測方法など幅広い使い方が可能、⑤高度な電子工学と光学技術の融合により広範かつ高精度なTHz分光が行えるPure Technologyを用い、パルス発振によるTDS(時間ドメイン分光)を行うタイプと連続発振によるFDS(周波数ドメイン分光)を行うタイプが選択可能、など。
- 会社名
- (株)アイ・アール・システム
- 所在地
- 東京都多摩市愛宕4-6-20
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