ダブルパルステスト機能を搭載したダイナミックパワーデバイスアナライザ。特徴は、①ワイドバンドギャップ半導体の一貫した信頼性の高い特性評価を実現し、安全なテスト環境を確保、②設計にかかる時間と試作回数を減らすことで、コストを削減し、製品化までの時間を短縮、③すぐに使えるテストソリューションによる文書化、サポート、管理工数を削減と、複数台あるいは複数拠点にあるテスタのメンテナンス効率の向上、など。