1GHzプローブと12ビット高分解能オシロスコープおよびテストソフトウエアのシステムで、ワイドバンドギャップ半導体のテストに高精度を提供する半導体解析測定システム。特徴は、①窒化ガリウム（GaN）と炭化ケイ素（SiC）パワー半導体デバイスの電気特性を1.5％の高精度で評価可能、②1GHzの帯域幅はGaNデバイスの1n秒の立ち上がり時間を測定するための要件を満たしている、③テストソフトウエアによりGaNおよびSiCデバイスの解析が容易、など。