半導体リレー方式によるインパルスノイズ試験器。特徴は、①スイッチングデバイスの接点間の放電、電子モータから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生し、電子機器の耐性を評価、②試験パルスに含まれている周波数成分の幅が広く、パルス幅の可変でエネルギー量も変化させることができるため、ノイズトラブルに対して再現性の高いノイズ試験が可能、③JEM-TR177やNECA TR-28のガイドラインにも対応、など。