光学テスト測定システム
OE4001
米国のOEwaves社製で、超低RIN(相対強度ノイズ)CWレーザ光源の完全自動測定を提供する光学テスト測定システム。特徴は、①複雑なセットアップなしに、相対強度ノイズスペクトルを自動的かつ迅速に測定することができる、②システム一式は、専用PC上のシンプルなグラフィックユーザーインタフェースを介して、簡単/高速/高精度に動作し、追加のテスト機器は不要、③様々な入力波長帯域に拡張可能で、複数の周波数レンジオプションを用意、④3U×19インチラックシステム、⑤製造/研究環境に最適、など。
- 会社名
- (株)アムテックス
- 所在地
- 東京都世田谷区経堂5-20-16

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