化合物半導体デバイスの平均寿命を予測するために、時間経過においてRFとDCの性能劣化を決定する際の柔軟性と精度を提供するRF自動信頼性試験装置。特徴は、①チャンネルごとに「RF＋DC＋Temp.」の様々な試験条件が設定可能、②オートシーケンス機能により任意条件で、各種試験を自動で実行、③パルスでのライフテスト、SPAおよびGain Compression測定が可能、④各試験方法に準拠（JEDEC Pub JEP118／JPL Pub #96-25／MIL-HDBK-217F）、など。