非接触フィルム厚さ計
TISMε-C型
一般の赤外線フィルム厚さ計とはまったく違う発想で開発された非接触フィルム厚さ計。特徴は、①薄物で透過減衰方式で0.1μm分解可能(材質、仕様による)、②薄物1μm以下で透過ε測定方式で0.01μmまで分解可能、③拡散放射率演算方式(透過または反射)(可視光〜赤外線領域まで最適波長を選択使用)で、原理的に安全で危険性がなく、他の原理では使用できない塗装膜層のみの厚さ測定が可能、④小型、軽量、高性能、⑤新機能として、極薄、ピンポイント(外径0.5mm)での金属などの反射測定が可能、など。
- 会社名
- T・I・T
- 所在地
- 東京都練馬区西大泉5-32-12

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