近赤外波長コート＠1100nmを中心に高い透過率を実現するテレセントリックレンズ。特徴は、①赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能、②主な用途としては、シリコンウエハやICチップなどの半導体デバイスの内部を観察、ソーラーパネルやLCDなどの電気／電子部品の非破壊検査、ウエハやフリップボンダ用位置決めに適する、など。