SMT／半導体／ラボのアセンブリアプリケーションに最適なマイクロフォーカスX線透視／CT検査装置。特徴は、①16bitフラットパネルディテクタによる優れた表現力、②ナノフォーカスモードと高出力モードを両立したマルチフォーカスX線管搭載、③電子／樹脂／ゴム／金属部品など様々な用途に有効、④優れた品質の2D/3D画像を短時間で生成、⑤先進機能による検査を簡単な手順で実行、⑥高度な操作をワンクリックで実行、など。